Plasma de silà a baixa pressió per a la producció de silici amorf hidrogenat

Joaquim Andreu Álvarez, Juan Carlos Delgado Nieto, Joan Esteve Pujol, José Luis Andújar Bella, Josep Lluís Morenza i Gil, Georges Sardin Charles

33 - 41

El·lipsometria ràpida i espectroscòpica per a la caracterització de capes fines

Joan Antó i Roca, Enric Bertran Serra, Josep Lluís Morenza i Gil

53 - 58

Relacions entre propietats de l'equilibri estable i mestastable en materials semiconductors bons formadors de vidre

Maria Teresa Mora Aznar, Maria Dolors. Baró, Santiago Bordas Alsina, Santiago Suriñach Cornet, Narciso Clavaguera Plaja

59 - 79

La importància dels semiconductors calcogenurs amorfs i dels vidres metàl·lics en el camp de la ciència de materials

Maria Teresa Mora Aznar, Maria Dolors. Baró, Santiago Bordas Alsina, Santiago Suriñach Cornet, Narciso Clavaguera Plaja

81 - 88

Fatiga en els materiasl ceràmics

Maria Rosa Dalmau

95 - 105

Caracterització de clapes roges a la superfície de planxes metàl·liques de laminat en calent per XPS, XRD, SEM i EDXA

Josep M. Tura i Soteras, Adolf Traveria i Cros, María Dolores Castellar Bertran, Montserrat Marsal, Ignacio Arrieta

135 - 142

Caracterització per SEM, EDXA i XPS de l'efecte d'un ensimatge sobre la fibra acrílica

Josep M. Tura i Soteras, Albert Mª Manich i Bou, María Dolores Castellar Bertran

143 - 154

Determinació mitjançant XPS de l'estat d'oxidació de l'argent incorporat a filtres de carbó actiu

Josep M. Tura i Soteras, Adolf Traveria i Cros, Rosa Ripoll, María Dolores Castellar Bertran, Enric Palacios

161 - 184